中兴通讯取得散热测试专利,提升芯片散热测试的精度和测试周期

芯物联2023年12月16日消息,据国家知识产权局公告,中兴通讯股份有限公司取得一项名为“一种散热测试方法及系统和发热装置“,授权公告号CN111800305B,申请日期为2019年4月。

芯物联2023年12月16日消息,据国家知识产权局公告,中兴通讯股份有限公司取得一项名为“一种散热测试方法及系统和发热装置“,授权公告号CN111800305B,申请日期为2019年4月。

专利摘要显示,本发明提供了一种散热测试方法及系统和发热装置,其中散热测试方法,应用于散热测试系统,该散热测试系统包括发热装置和散热装置,其中,该发热装置包括电源单元、发热单元和温度传感器,该电源单元和该发热单元相连,该方法包括:根据该电源单元输出功率调整该发热单元的发热功率;测量该发热单元的温度;在到达预设温度阈值的情况下,启动散热装置进行散热处理。通过本发明,解决了相关技术中开发过程中芯片散热测试精度低周期长的问题,提升芯片散热测试的精度和测试周期。

THE END
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