龙芯中科申请老化检测芯片专利，提升电路老化效应影响分析准确性

2023-11-29 12:05 来源:金融界

金融界2023年11月29日消息，据国家知识产权局公告，龙芯中科技术股份有限公司申请一项名为“具有老化检测功能的芯片”，公开号CN117129824A，申请日期为2023年7月。

金融界2023年11月29日消息，据国家知识产权局公告，龙芯中科技术股份有限公司申请一项名为“具有老化检测功能的芯片”，公开号CN117129824A，申请日期为2023年7月。

专利摘要显示，本申请实施例提供了一种具有老化检测功能的芯片，涉及电子设备技术领域。芯片中，模拟测试电路包括的电路逻辑单元与构成被测电路的电路逻辑单元至少部分一致，且模拟测试电路的运行时期与被测电路的运行时期一致。模拟测试电路在运行时期向数据处理电路传输测试输出信号。数据处理电路根据模拟测试电路在芯片初始运行时期传输的测试输出信号，确定模拟测试电路的第一性能表征数据，接收有效的老化测试使能信号，根据模拟测试电路在老化测试时期传输的测试输出信号，确定模拟测试电路的第二性能表征数据，根据第一性能表征数据和第二性能表征数据计算被测电路的老化率。本申请提升了针对电路老化效应对电路影响情况的分析准确性。

THE END
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